一种反射式相控阵天线的校准测试方法及装置
授权
摘要
本申请公开了一种反射式相控阵天线的校准测试方法，包括如下步骤。步骤S10：拆除反射式相控阵天线自带的空间馈源。步骤S20：在中场位置设置外置馈源和测试探头，确保测试探头与反射式相控阵天线的反射面之间无遮挡；所述中场位置是指距离发射面3个波长到10个波长的区域。步骤S30：采用外置馈源对反射式相控阵天线的反射面进行偏馈辐射馈电，通过测试探头采集经过反射式相控阵天线的反射面的各个阵元反射回的辐射信号，并对各个阵元所采集的数据进行校准配平使各个阵元口径面处的相位一致。本申请具有测试方法及计算过程简单、校准难度低、校准精度高的优点。
基本信息
专利标题 ：
一种反射式相控阵天线的校准测试方法及装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN113992278A
申请号 ：
CN202111635427.5
公开（公告）日 ：
2022-01-28
申请日 ：
2021-12-30
授权号 ：
CN113992278B
授权日 ：
2022-04-08
发明人 ：
周建华曾卓毛小莲鲍坤
申请人 ：
上海莱天通信技术有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区郭守敬路498号16号楼200室
代理机构 ：
上海双霆知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
殷晓雪
优先权 ：
CN202111635427.5
主分类号 ：
H04B17/11
IPC分类号 ：
H04B17/11 H04B17/21
法律状态
2022-04-08 ：
授权
2022-02-18 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H04B 17/11
申请日 : 20211230
申请日 : 20211230
2022-01-28 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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