一种辐射发射测试天线的天线系数的现场校准方法
实质审查的生效
摘要

本发明提供了一种辐射发射测试天线的天线系数的现场校准方法,在校准试验室内,利用已有的包括信号源、场强探头、场强计等辐射敏感度设备、频谱仪和试验台、试验地面等试验环境测量得到待校天线的天线系数。本发明可利用电磁兼容试验室已有的设备在试验室真实环境中对辐射发射天线的天线系数进行现场校准测量,不仅避免了天线运输等带来的天线损坏、校准周期长等问题,而且由于是现场校准保证了校准得到的天线系数的可靠性,有利于电磁兼容辐射发射试验测试的准确性。

基本信息
专利标题 :
一种辐射发射测试天线的天线系数的现场校准方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114280381A
申请号 :
CN202111523600.2
公开(公告)日 :
2022-04-05
申请日 :
2021-12-13
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
史志鹏孙晋
申请人 :
中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所
申请人地址 :
河南省洛阳市凯旋西路25号
代理机构 :
西北工业大学专利中心
代理人 :
金凤
优先权 :
CN202111523600.2
主分类号 :
G01R29/10
IPC分类号 :
G01R29/10  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R29/00
不包括在G01R19/00至G01R27/00各组中的电量的测量或指示装置
G01R29/08
电磁场特性的测量
G01R29/10
天线的辐射图
法律状态
2022-04-22 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 29/10
申请日 : 20211213
2022-04-05 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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