紧缩场测试系统及其反射面
授权
摘要
本实用新型涉及一种紧缩场测试系统及其反射面。紧缩场测试系统包括馈源、反射面和转台；馈源包括馈源天线；馈源天线的相位中心设置于反射面曲面的焦点；转台用于承载被测件；被测件设置于静区内；其中，反射面包括反射面本体；反射面本体包括抛物面，抛物面接收紧缩场中馈源发出的球面波，经过反射后产生的平面波发送至静区；反射面本体的边沿设置有卷边，卷边朝向与静区相反的方向。本实用新型卷边卷曲的边沿可以将产生的电流沿着卷曲边流动，在卷边的边沿处发生散射，由于卷边的边沿设置在与静区相反的位置上，因此不会对静区的信号产生干扰。
基本信息
专利标题 ：
紧缩场测试系统及其反射面
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921516161.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-09-12
授权号 ：
CN210720582U
授权日 ：
2020-06-09
发明人 ：
夏冬雪
申请人 ：
深圳市蓉声科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市福田区福中路27号海连大厦连天阁1103室
代理机构 ：
北京市商泰律师事务所
代理人 ：
麻吉凤
优先权 ：
CN201921516161.0
主分类号 ：
G01R29/08
IPC分类号 ：
G01R29/08 G01S7/40
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R29/00
不包括在G01R19/00至G01R27/00各组中的电量的测量或指示装置
G01R29/08
电磁场特性的测量
法律状态
2020-06-09 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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