一种基于电扫天线的太赫兹紧缩场测试系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种基于电扫天线的太赫兹紧缩场测试系统，包括：暗室、待测目标、固定装置、矢量网络分析仪、太赫兹矢网扩展模块、计算机、电扫天线和馈电模块，所述的电扫天线、馈电模块均位于暗室的内部，所述的电扫天线与太赫兹矢网扩展模块之间通过馈电模块控制连接。通过上述方式，一种小型化、快速便捷、低成本太赫兹紧缩场可获得待测目标的雷达反射截面或者待测天线的远场方向图数据，采用了全新的有源电扫天线取代原有的发射面或全息光栅，降低了系统成本、减少了使用空间同时提供小型化紧缩场快速测试的能力。
基本信息
专利标题 ：
一种基于电扫天线的太赫兹紧缩场测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921029158.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-04
授权号 ：
CN210294411U
授权日 ：
2020-04-10
发明人 ：
张宇
申请人 ：
苏州特拉芯光电技术有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市高新区塔园路379号1幢7楼GA04-2工位
代理机构 ：
北京科家知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
张丽
优先权 ：
CN201921029158.6
主分类号 ：
G01R29/10
IPC分类号 ：
G01R29/10 G01S7/40
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R29/00
不包括在G01R19/00至G01R27/00各组中的电量的测量或指示装置
G01R29/08
电磁场特性的测量
G01R29/10
天线的辐射图
法律状态
2020-04-10 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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