一种微波暗室高性能测试转台
授权
摘要
本实用新型提供了一种微波暗室高性能测试转台，包括基座、设于所述基座上的32型关节模组、与所述32型关节模组连接的大关节臂、与所述大关节臂连接的下端25型关节模组、与所述下端25型关节模组连接的中关节臂、与所述中关节臂连接的上端25型关节模组、与所述上端25型关节模组连接的17型关节模组以及与所述17型关节模组连接的负载，本实用新型在传统天线测试转台的设计思想上进行了改进，重点是结构上的改进设计，避免了测试区间被部分机体占用的弊端，转台可实现任意角度的测试，信号不会被遮挡。
基本信息
专利标题 ：
一种微波暗室高性能测试转台
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021695165.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-14
授权号 ：
CN212932701U
授权日 ：
2021-04-09
发明人 ：
王志胜吴丽芳赵迎蒋倩厂胡昕成旭明
申请人 ：
南京大漠大航空科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省南京市江宁区胜利路38号15楼(江宁开发区)
代理机构 ：
苏州创策知识产权代理有限公司
代理人 ：
范圆圆
优先权 ：
CN202021695165.2
主分类号 ：
G01R1/04
IPC分类号 ：
G01R1/04 G01R1/02 G01R29/10
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳；支承构件；端子装置
法律状态
2021-04-09 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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