一种微波暗室高低温测试结构

授权

摘要

本实用新型涉及一种微波暗室高低温测试结构，包括暗室本体，在该暗室本体内部设置有转台，所述转台上连接有第一管道和第二管道，在所述暗室本体的外侧设置有温控箱，该温控箱的出风口通过第一通气管与所述第一管道连接，该温控箱的进风口通过第二通气管与所述第二管道连接；所述第一通气管和第二通气管分别通过屏蔽结构与所述暗室本体的侧板连接。本实用新型的微波暗室高低温测试结构，在暗室本体的外侧增设温控箱，能在暗室内实现高低温的调节，既能为测试提供正常的温度环境，也能提供较低或较高的温度环境，有利于检测恶劣环境下的产品性能的数据。

基本信息

专利标题：

一种微波暗室高低温测试结构

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021032848.X

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-06-08

授权号：

CN212410708U

授权日：

2021-01-26

发明人：

林宪琦门瓢瓢

申请人：

青岛中卓海泰微波科技有限公司

申请人地址：

山东省青岛市黄岛区保税港区上海路25号富润综合楼一层04室（B）

代理机构：

北京酷爱智慧知识产权代理有限公司

代理人：

陈巍

优先权：

CN202021032848.X

主分类号：

G01R29/10

IPC分类号：

G01R29/10 G05D23/20