暗室静区测试系统
授权
摘要
本实用新型提供了一种暗室静区测试系统，包括：发射装置、接收装置、伺服机器人、以及控制装置；发射装置设于暗室远离所述静区的一端并发射测试信号；接收装置设于伺服机器人上，包括用于接收毫米波信号的接收天线及处理毫米波信号的信号处理模块；伺服机器人设于暗室静区内，并用于调整接收天线的空间位置；所述控制装置用于控制发射天线发射毫米波信号、接收并处理信号处理模块的结果、控制伺服机器人的工作状态以支持接收天线的俯仰角和方位角调节及在对应俯仰角和方位角下在X轴、Y轴、Z轴三个轴向上行进并接收信号。该测试系统轻便、便于携带，可为有需要客户提供上门服务。
基本信息
专利标题 ：
暗室静区测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021655242.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-10
授权号 ：
CN212459872U
授权日 ：
2021-02-02
发明人 ：
卜景鹏东君伟马向华秦然
申请人 ：
中山香山微波科技有限公司
申请人地址 ：
广东省中山市火炬开发区祥兴路6号数贸大厦南冀4层412卡
代理机构 ：
深圳瑞天谨诚知识产权代理有限公司
代理人 ：
杨龙
优先权 ：
CN202021655242.1
主分类号 ：
G01R29/10
IPC分类号 ：
G01R29/10
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R29/00
不包括在G01R19/00至G01R27/00各组中的电量的测量或指示装置
G01R29/08
电磁场特性的测量
G01R29/10
天线的辐射图
法律状态
2021-02-02 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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