激光远场光强分布状态测试装置
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要

本发明公开了一种激光远场光强分布状态测试装置,包括:一个测试平台和旋转平台组成双轴外同心转动平台,测试平台和旋转平台由控制箱中控制旋转角度;置于测试平台上的被测光源正对着一个探测器,所述探测器由列阵光敏器件组成,安装在一个多自由度移动平台上,可调节同被测光源的距离和同轴度;探测器同控制箱中的单扳机连接,进行光电转换,输入计算机进行数据处理和输出。该装置具有探测口径无限大,即360°全视场探测、能连续测量单一或多个发光点或发光窗口、测量大发散角激光器或配置光学系统变换后的远场光强分布等优点。

基本信息
专利标题 :
激光远场光强分布状态测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN101067572A
申请号 :
CN200510111899.5
公开(公告)日 :
2007-11-07
申请日 :
2005-12-23
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
夏红娟徐国墚王洪尊朱瑞兴忻云龙吴俊
申请人 :
上海无线电设备研究所;上海师范大学
申请人地址 :
200090上海市黎平路203号
代理机构 :
上海航天局专利中心
代理人 :
金家山
优先权 :
CN200510111899.5
主分类号 :
G01J1/02
IPC分类号 :
G01J1/02  G01J1/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J1/00
光度测定法,例如照相的曝光表
G01J1/02
零部件
法律状态
2010-12-29 :
发明专利申请公布后的视为撤回
号牌文件类型代码 : 1603
号牌文件序号 : 101058385456
IPC(主分类) : G01J 1/02
专利申请号 : 2005101118995
公开日 : 20071107
2008-06-18 :
实质审查的生效
2007-11-07 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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