LED显示屏像素阵列光强分布测试系统
专利权的终止
摘要

本实用新型涉及一种LED平板显示屏像素阵列光强分布测试系统,该系统包括测试转台,数据采集系统,计算机;LED显示屏模组置于测试转台上;数据采集系统置于测试转台的正前方,并且数据采集系统通过数据传输线与计算机连接。LED显示屏模组随测试转台每转动一个角度,数据采集系统在计算机的控制下对LED显示屏模组进行一次光强数据的采集,数据采集系统采集的光强数据录入计算机数据库。这样就可以在此基础上分析由视角引起的LED显示屏光强分布的变化情况,针对不同的LED显示屏总结出其相应的变化规律,从而为LED平板显示屏出厂前校正及现场校正提供依据。

基本信息
专利标题 :
LED显示屏像素阵列光强分布测试系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820072379.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-09-03
授权号 :
CN201247098Y
授权日 :
2009-05-27
发明人 :
郑喜凤丁铁夫宋新丽
申请人 :
长春希达电子技术有限公司
申请人地址 :
130033吉林省长春市经济技术开发区营口路19号B座
代理机构 :
长春菁华专利商标代理事务所
代理人 :
王淑秋
优先权 :
CN200820072379.7
主分类号 :
G01J1/00
IPC分类号 :
G01J1/00  G01M11/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J1/00
光度测定法,例如照相的曝光表
法律状态
2018-09-28 :
专利权的终止
专利权有效期届满IPC(主分类) : G01J 1/00
申请日 : 20080903
授权公告日 : 20090527
2009-05-27 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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