一种LED光源光强空间分布特性测试装置
专利权的终止
摘要
本实用新型涉及一种LED光源光强空间分布特性测试装置，包括基座、测试样品座、光度探测单元、探测器支架、测试电路、计算机和测试软件。其采用多个光度探测单元多路同步测试方法，取代1个光度探测器依次进行多点测试，实现LED光源的光强空间分布特性的快速测试。相对于采用一个光度探测器的传统配光曲线测量方法，如果选用N个光度探测器，测试速度可提高N倍以上，具有测试速度快，精度高，信息量丰富，更具有实时性和直观性的显著优势。
基本信息
专利标题 ：
一种LED光源光强空间分布特性测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN200820046804.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2008-04-23
授权号 ：
CN201229204Y
授权日 ：
2009-04-29
发明人 ：
任豪李康业王巧彬胡敏
申请人 ：
广州市光机电技术研究院
申请人地址 ：
510663广东省广州市高新技术产业区科学城科研路3号
代理机构 ：
广州市一新专利商标事务所有限公司
代理人 ：
陈振华
优先权 ：
CN200820046804.5
主分类号 ：
G01J1/42
IPC分类号 ：
G01J1/42 G01M11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J1/00
光度测定法，例如照相的曝光表
G01J1/42
采用电辐射检测器
法律状态
2018-05-18 ：
专利权的终止
专利权有效期届满IPC(主分类) : G01J 1/42
申请日 : 20080423
授权公告日 : 20090429
申请日 : 20080423
授权公告日 : 20090429
2009-04-29 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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