空气折射率测量装置
专利权的终止未缴纳年费专利权终止
摘要
一个由塞曼双频激光比相干涉仪和真空腔组成的空气折射率测量装置，真空腔内外分别构成干涉仪的两个光臂。真空腔有倾斜的端面，并可垂直于光线横向移动。可以进行高精度空气折射率测量。
基本信息
专利标题 ：
空气折射率测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN86107252A
申请号 ：
CN86107252.9
公开（公告）日 ：
1988-05-04
申请日 ：
1986-10-21
授权号 ：
CN86107252B
授权日 ：
1988-07-20
发明人 ：
侯文玫裘惠孚
申请人 ：
北京机械工业管理学院分部
申请人地址 ：
北京市朝阳门外金台西路2号
代理机构 ：
冶金专利事务所
代理人 ：
吴甘棠
优先权 ：
CN86107252.9
主分类号 ：
G01N21/45
IPC分类号 ：
G01N21/45 G01B9/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/41
折射率；影响相位的性质，例如光程长度
G01N21/45
利用干涉量度法，利用纹影方法
法律状态
1991-02-20 ：
专利权的终止未缴纳年费专利权终止
1989-04-05 ：
授权
1988-07-20 ：
审定
1988-05-04 ：
公开
1987-03-04 ：
实质审查请求
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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