测量样品折射率的方法
专利权的终止未缴纳年费专利权终止
摘要
本发明提出了由激光器、全反射镜、探测器、电路和测量系统所构成的折射仪。它利用“γ”形曲线的“平直段”、“陡降段”和“缓升段”分别做校准、精测和粗测，双光束做自补偿。特点是不做角度测量、无活动部件、结构简单、实时测量。通过对棱镜材料和入射角的选择，可设计制造出折射率测量范围为大于1直到无穷大的一系列精密仪器。它也极适于用做探测与物质折射率有关的各种物理量的实时传感器。
基本信息
专利标题 ：
测量样品折射率的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN85102907A
申请号 ：
CN85102907.8
公开（公告）日 ：
1987-02-18
申请日 ：
1985-07-16
授权号 ：
CN85102907B
授权日 ：
1988-12-07
发明人 ：
冷长庚
申请人 ：
冷长庚
申请人地址 ：
北京市182信箱
代理机构 ：
电子工业部专利服务中心
代理人 ：
张桂霞
优先权 ：
CN85102907.8
主分类号 ：
G01N21/41
IPC分类号 ：
G01N21/41
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/41
折射率；影响相位的性质，例如光程长度
法律状态
1991-11-06 ：
专利权的终止未缴纳年费专利权终止
1989-09-27 ：
授权
1988-12-07 ：
审定
1987-02-18 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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