测量光纤折射率分布图的方法
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
公开一种用于测定光纤的折射率分布图的方法，其中将来自一个强光源的光线聚焦于测试光纤的裸光纤端部。少量的光将被接入光纤，在那里对所述短段无被覆光纤来说只激发包层模。所述折射率是直接通过解析利用具有某一限定数值孔径的透镜系统射自所述光纤的光强分布而测定的。
基本信息
专利标题 ：
测量光纤折射率分布图的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN87106264A
申请号 ：
CN87106264.X
公开（公告）日 ：
1988-08-10
申请日 ：
1987-09-08
授权号 ：
CN1015827B
授权日 ：
1992-03-11
发明人 ：
埃里克·L·巴克兰西村正幸威廉·H·哈顿
申请人 ：
住友电气工业株式会社
申请人地址 ：
日本大阪府大阪市
代理机构 ：
中国专利代理有限公司
代理人 ：
曹济洪
优先权 ：
CN87106264.X
主分类号 ：
G01N21/41
IPC分类号 ：
G01N21/41
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/41
折射率；影响相位的性质，例如光程长度
法律状态
1997-10-22 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1992-11-25 ：
授权
1992-03-11 ：
审定
1989-10-11 ：
实质审查请求
1988-08-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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