折射率测量仪
专利权的终止(未缴年费专利权终止)
摘要
一种折射率测量仪，属于教学仪器领域。现有技术存在不能直接读数且由于测量过程复杂、测量结果误差较大的缺陷。本实用新型它包括刻度盘和设于刻度盘上的若干标志杆，所述的刻度盘上设有环形角度标识，所述的角度标识的中央设有原点标识。通过设置标有角度的刻度盘和与其对应的标志杆，简化了测量步骤，读数直接，测量误差小，使用方便。
基本信息
专利标题 ：
折射率测量仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN200620105920.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2006-07-21
授权号 ：
CN2929710Y
授权日 ：
2007-08-01
发明人 ：
王乐安
申请人 ：
王乐安
申请人地址 ：
310012浙江省杭州市西湖区华立星洲花园星艺街28号
代理机构 ：
浙江翔隆专利事务所
代理人 ：
戴晓翔
优先权 ：
CN200620105920.0
主分类号 ：
G01N21/41
IPC分类号 ：
G01N21/41 G09B23/22
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/41
折射率；影响相位的性质，例如光程长度
法律状态
2009-09-16 ：
专利权的终止(未缴年费专利权终止)
2007-08-01 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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