基于泰曼格林测量系统的介质折射率测量仪
专利权的终止
摘要

本实用新型公开了一种基于泰曼格林测量系统的介质折射率测量仪,包括小型光学平台及沿光路传输方向依次设置于小型光学平台上的氦氖激光器、偏振片I、透镜、反射镜I、扩束透镜、准直透镜、偏振片II、分光棱镜和CCD传感器,分光棱镜的相邻侧分别设有与分光棱镜相对的反射镜II和反射镜III,反射镜III与分光棱镜之间设有待测透明介质,CCD传感器通过线路与计算机电性连接,用于将CCD传感器采集的干涉信号传输至计算机进行图像显示。本实用新型采用氦氖激光器且在小型光学平台上进行实验,整套设备轻巧易于携带、运输,可以在不同场合进行演示实验。

基本信息
专利标题 :
基于泰曼格林测量系统的介质折射率测量仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020027962.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-01-08
授权号 :
CN211425820U
授权日 :
2020-09-04
发明人 :
高怡雯张乘苹郭嘉辉熊仟禧胡速通秦朝朝
申请人 :
河南师范大学
申请人地址 :
河南省新乡市牧野区建设东路46号
代理机构 :
新乡市平原智汇知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
路宽
优先权 :
CN202020027962.7
主分类号 :
G01M11/02
IPC分类号 :
G01M11/02  G01M11/04  G01N21/45  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试;其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2021-12-17 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01M 11/02
申请日 : 20200108
授权公告日 : 20200904
终止日期 : 20210108
2020-09-04 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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