一种测量透明平板介质折射率的装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种测量透明平板介质折射率的装置，包括光具座、读数显微镜、测角盘、标尺、毛玻璃、白光光源，读数显微镜、测角盘、标尺、毛玻璃、白光光源依次置于光具座上，读数显微镜和标尺要做到等高共轴。测量前，在测角盘上放入待测透明平板介质，使待测透明平板介质透光平面垂直于光轴。测量时，只需测量入射到透明平板介质的光线的入射角和与之相对应的入射光线和出射光线的横向位移，即可获得待测透明平板介质的折射率。该装置实验方法简单，测量原理明确，适用于高等学校普通物理折射率测量相关实验项目。
基本信息
专利标题 ：
一种测量透明平板介质折射率的装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021123109.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-17
授权号 ：
CN212989163U
授权日 ：
2021-04-16
发明人 ：
贾小文范海英贺秀良
申请人 ：
中国人民解放军陆军军事交通学院
申请人地址 ：
天津市河东区成林道东局子1号
代理机构 ：
天津市三利专利商标代理有限公司
代理人 ：
张义
优先权 ：
CN202021123109.1
主分类号 ：
G01N21/41
IPC分类号 ：
G01N21/41 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/41
折射率；影响相位的性质，例如光程长度
法律状态
2021-04-16 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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