一种折射率测量装置
授权
摘要
本发明提供一种折射率测量装置，包括底座、测量载台、固定平台和测量模块，其特征在于，所述测量载台和固定平台固定的设置在底座上，且位于同一直线上，所述测量模块通过竖杆活动的设置在所述固定平台上，所述固定平台内安装有转轴，所述竖杆设置在所述转轴上，并可随所述转轴进行转动，所述固定平台上还固定的设置有角度编码器，用于记录竖杆转动的角度。本装置通过采用反射手段进行折射率测量，解决了测量样品形态的问题，对固体或液体样品表面均可进行折射率测量，而且想要获得该材料对应不同波长的折射率参数，只需要更换光源，重新调整竖杆摆动位置获取新的临界角角度，即可准确、快速获得折射率参数。
基本信息
专利标题 ：
一种折射率测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021855636.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-31
授权号 ：
CN213544383U
授权日 ：
2021-06-25
发明人 ：
闫飞马磊彭俊张熠朱登宝
申请人 ：
苏州精创光学仪器有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市昆山开发区章基路189号1栋201
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202021855636.1
主分类号 ：
G01N21/43
IPC分类号 ：
G01N21/43
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/41
折射率；影响相位的性质，例如光程长度
G01N21/43
通过测量临界角
法律状态
2021-06-25 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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