基于超长周期光纤光栅的温度自补偿折射率测量方法及器件
专利权的终止
摘要

本发明提出一种基于超长周期光纤光栅的温度自补偿液体折射率测量方法,它利用横向折变非对称的超长周期光纤光栅为核心测量器件,先由超长周期光纤光栅的高阶谐振峰测量待测液体的环境温度变化,再由低阶谐振峰测量液体的温度和折射率的共同变化,最后利用高阶谐振峰的温度测量结果对低阶谐振峰的测量结果进行校正,从而实现对不同温度条件下液体折射率的准确测量。本发明还提出了一种折射率测量器,由超长周期光纤光栅和折射率小于其光纤包层的基板构成;光栅被拉直置于基板上的槽内,并保证待测液体滴入槽内能够完全环绕光栅。本发明可以实现温度自补偿折射率测量,测量灵敏度高,结构简单,成本低廉,插入损耗小,可应用于恶劣的工业环境。

基本信息
专利标题 :
基于超长周期光纤光栅的温度自补偿折射率测量方法及器件
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1825090A
申请号 :
CN200510057409.8
公开(公告)日 :
2006-08-30
申请日 :
2005-11-28
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
朱涛饶云江莫秋菊
申请人 :
重庆大学
申请人地址 :
400044重庆市沙坪坝区沙正街174号
代理机构 :
重庆华科专利事务所
代理人 :
康海燕
优先权 :
CN200510057409.8
主分类号 :
G01N21/41
IPC分类号 :
G01N21/41  
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IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/41
折射率;影响相位的性质,例如光程长度
法律状态
2012-02-08 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101179740524
IPC(主分类) : G01N 21/41
专利号 : ZL2005100574098
申请日 : 20051128
授权公告日 : 20090114
终止日期 : 20101128
2009-01-14 :
授权
2006-10-25 :
实质审查的生效
2006-08-30 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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