散射补偿方法和散射测量方法

专利权的终止

摘要

本发明的一个目的是补偿在多层放射线摄影期间出现的散射。导致散射的非患者实体(不同于患者的实体)的投影长度pro_ex被获取，并且放射线摄影对象的投影长度pro_pt被获取。对放射线摄影对象进行放射线摄影，以便测量数据I(do，do)，其中将线束厚度设置成与探测器厚度do具有相同的值。对放射线摄影对象进行放射线摄影，以便测量数据I(do，d)，其中将线束厚度设置成大于探测器厚度do的值d。根据数据I(do，do)和数据I(do，d)之间的差值，散射量S(do，d)被计算并与投影长度和pro_pt+pro_ex相关联地被存储。在对患者进行放射线摄影以产生数据后，患者的投影长度pro_pt被计算，已经对数据造成影响的非患者实体的投影长度pro_ex也被计算。和患者投影长度pro_pt与非患者实体投影长度pro_ex的和相关的散射量S(do，d)被读出。因此，数据被校正以便补偿散射。最后，由散射引起的CT图

基本信息

专利标题：

散射补偿方法和散射测量方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN1846624A

申请号：

CN200610082095.1

公开（公告）日：

2006-10-18

申请日：

2006-03-01

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

贯井正健

申请人：

GE医疗系统环球技术有限公司

申请人地址：

美国威斯康星州

代理机构：

中国专利代理(香港)有限公司

代理人：

程天正

优先权：

CN200610082095.1

主分类号：

A61B6/03

IPC分类号：

A61B6/03