散射断层成像装置以及散射断层成像方法
公开
摘要
散射断层成像装置(100)具备：发送天线元件(101)，将电波向物体的内部发送；接收天线元件(102)，在物体的外部接收电波的散射波；以及信息处理电路(103)，获得多天中的多个测定结果，根据多个测定结果来生成重建图像，该重建图像示出物体的内部的持续的要素，信息处理电路(103)针对多个测定结果的每一个算出散射场函数，并针对多个测定结果的每一个算出影像化函数，针对多个测定结果，生成多个中间图像，通过以“与”运算来算出多个中间图像中的各位置的图像强度的最小值，从而生成重建图像。
基本信息
专利标题 ：
散射断层成像装置以及散射断层成像方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114390908A
申请号 ：
CN202080063129.0
公开（公告）日 ：
2022-04-22
申请日 ：
2020-07-28
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
木村宪明木村建次郎
申请人 ：
积分几何科学公司
申请人地址 ：
日本兵库县
代理机构 ：
永新专利商标代理有限公司
代理人 ：
安香子
优先权 ：
CN202080063129.0
主分类号 ：
A61B5/0507
IPC分类号 ：
A61B5/0507
IPC结构图谱
A
A部——人类生活必需
A61
医学或兽医学；卫生学
A61B
诊断；外科；鉴定
A61B5/0507
测量微波或太赫兹波
法律状态
2022-04-22 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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