使用断层成像设备研究样品的方法。一种使用断层成像研究样品的方法，其包括以下步骤：提供样品和源；将来自所述源的辐射束引导到所述样品；以及检测透射穿过所述样品的辐射通量。所述方法进一步包括以下步骤：移动所述样品和所述源中的至少一个以用于提供所述源相对于所述样品的相对运动；以及沿着一系列不同检视轴线使所述样品成像，所述检视轴线与包围所述样品且大体上居中于其上的虚拟参考表面相交，其中所述移动和成像步骤的组合在所述虚拟参考表面上产生取样几何形状。如本文所定义，以使得所述取样几何形状包括多个间隔开的线段的方式协调所述移动和成像步骤。