背散射成像设备和背散射检测系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种背散射成像设备和一种背散射检测系统。该背散射成像设备包括背散射单元，所述背散射单元包括：支撑架；飞点扫描模块，所述飞点扫描模块包括射线源以及与所述射线源转动连接的飞点轮，并用于沿所述飞点轮的径向方向且在360°的范围内发射射线束；以及至少一个环形探测器，所述至少一个环形探测器与所述支撑架连接，用于探测所述射线束经被检测对象散射的散射信号。
基本信息
专利标题 ：
背散射成像设备和背散射检测系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021216889.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-28
授权号 ：
CN212207702U
授权日 ：
2020-12-22
发明人 ：
陈志强崔锦胡斌林东阮明张清吴华威
申请人 ：
清华大学;同方威视技术股份有限公司
申请人地址 ：
北京市海淀区清华园1号
代理机构 ：
中科专利商标代理有限责任公司
代理人 ：
周永红
优先权 ：
CN202021216889.4
主分类号 ：
G01V5/00
IPC分类号 ：
G01V5/00 G01N23/203
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01V
地球物理；重力测量；物质或物体的探测；示踪物
G01V5/00
应用核辐射进行勘探或探测，例如，利用天然的或诱导的放射性
法律状态
2020-12-22 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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