散射估计方法、成像系统、校正设备及存储介质
实质审查的生效
摘要

本发明实施例提供一种散射估计方法、成像系统、校正设备和存储介质,涉及医疗影像技术领域。本发明实施例在获取成像射束通过阻挡阵列板形成的投影图像后,通过获取投影图像中与阻挡阵列板中各阻挡柱对应的散射采样点,根据每两个相邻的散射采样点的散射信号,在每两个相邻的散射采样点之间的空位进行插值,得到插值采样点,然后根据各散射采样点以及各插值采样点的散射信号,得到投影图像对应的散射分布图。如此,通过设置阻挡阵列板对成像射束进行遮挡,在每两个相邻的散射采样点之间的空位进行插值,然后根据各散射采样点以及各插值采样点的散射信号,可以有效估计出投影图像的散射分布,提高投影图像的散射估计的准确性。

基本信息
专利标题 :
散射估计方法、成像系统、校正设备及存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114511649A
申请号 :
CN202111665443.9
公开(公告)日 :
2022-05-17
申请日 :
2021-12-31
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
闫浩刘达林常少杰
申请人 :
西安大医集团股份有限公司
申请人地址 :
陕西省西安市经济技术开发区凤城十二路66号首创国际城商务中心28号楼1单元3层10301室
代理机构 :
深圳紫藤知识产权代理有限公司
代理人 :
苏蕾
优先权 :
CN202111665443.9
主分类号 :
G06T11/00
IPC分类号 :
G06T11/00  G06T5/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T11/00
2D图像的生成
法律状态
2022-06-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 11/00
申请日 : 20211231
2022-05-17 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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