磁共振CEST成像频率漂移校正方法、装置、介质及成像设备
授权
摘要

本发明公开一种磁共振CEST成像频率漂移校正方法、装置、介质及成像设备。方法步骤如下:首先,在频率漂移校正模块中,利用小翻转角射频脉冲激发目标层面,采集单行自由感应衰减信号或者两行非相位编码梯度回波信号。其次,根据单行自由感应衰减信号或者两行非相位编码梯度回波信号的相位信息和采集时间,可分别算得主磁场频率漂移值。然后,根据主磁场频率漂移计算值实时调整磁共振设备的中心频率,实现主磁场频率漂移的实时校正。最后,再进行CEST成像。本发明针对磁共振CEST成像中的主磁场频率漂移问题,提出了基于采集自由感应衰减信号或非相位编码梯度回波信号的频率漂移校正模块对频率漂移进行实时校正,进而提高磁共振CEST成像的鲁棒性及可重复性。

基本信息
专利标题 :
磁共振CEST成像频率漂移校正方法、装置、介质及成像设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN112904251A
申请号 :
CN202110112963.0
公开(公告)日 :
2021-06-04
申请日 :
2020-03-31
授权号 :
CN112904251B
授权日 :
2022-04-29
发明人 :
张祎刘瑞斌张洪锡徐义程孙毅吴丹
申请人 :
浙江大学
申请人地址 :
浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号
代理机构 :
杭州求是专利事务所有限公司
代理人 :
傅朝栋
优先权 :
CN202110112963.0
主分类号 :
G01R33/58
IPC分类号 :
G01R33/58  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R33/00
测量磁变量的装置或仪器
G01R33/20
涉及磁共振
G01R33/44
采用核磁共振
G01R33/48
核磁共振图像系统
G01R33/58
图像系统的校正,例如使用测试探头
法律状态
2022-04-29 :
授权
2021-06-22 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 33/58
申请日 : 20200331
2021-06-04 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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