基于双光纤干涉仪的窄线宽激光器频率漂移检测装置
授权
摘要
本实用新型公开一种基于双光纤干涉仪的窄线宽激光器频率漂移检测装置，该窄线宽激光器频率漂移检测装置主要由1×2光纤分路器、2个光纤干涉仪及相位漂移检测电路组成。2个光纤干涉仪为迈克尔逊光纤干涉仪和/或马赫‑曾德尔光纤干涉仪。2个光纤干涉仪的测量光纤具有不同的温度延时系数。双干涉仪通过获得两个相位漂移检测值从而解调出测量光纤内激光器频率漂移产生的相位漂移和温度变化产生的相位漂移。本实用新型不仅能够在普通工作环境下，实现高精度的激光器频率漂移检测，从而能够将商用窄线宽激光器频率稳定性提高一至两个数量级或者为光纤干涉仪校正激光器频率漂移造成的系统误差提供参考依据，而且能够满足封装体积紧凑和低成本的需求。
基本信息
专利标题 ：
基于双光纤干涉仪的窄线宽激光器频率漂移检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022373052.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-10-22
授权号 ：
CN213068143U
授权日 ：
2021-04-27
发明人 ：
岳耀笠赵灏覃波欧阳竑刘鹏飞刘志强
申请人 ：
中国电子科技集团公司第三十四研究所
申请人地址 ：
广西壮族自治区桂林市七星区六合路98号
代理机构 ：
桂林市持衡专利商标事务所有限公司
代理人 ：
陈跃琳
优先权 ：
CN202022373052.7
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2021-04-27 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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