光热反射显微热成像装置及漂移修正方法
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摘要

本发明适用于图像处理领域和显微成像领域,提供了一种光热反射显微热成像装置及漂移修正方法,该装置包括:在原光热反射显微热成像装置上增加调制片和调光装置;调制片设置在所述原光热反射显微热成像装置中的散射片和准直透镜之间,且位于准直透镜的焦面上;调光装置设置在所述原光热反射显微热成像装置的光路上,用于使经调制片调制后的照明光不经被测样品表面直接在像面成像。由于采用的光热反射显微热成像装置中增加的调制片和调光装置,使得可以有效抑制光源强度漂移和相机响应度漂移对采集图像的误差的影响,并且不需要对被测物温度进行调制,即可实现对静态目标的温度测量。

基本信息
专利标题 :
光热反射显微热成像装置及漂移修正方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN112097951A
申请号 :
CN202010872383.7
公开(公告)日 :
2020-12-18
申请日 :
2020-08-26
授权号 :
CN112097951B
授权日 :
2022-06-10
发明人 :
刘岩梁法国丁立强徐森锋范雅洁
申请人 :
中国电子科技集团公司第十三研究所
申请人地址 :
河北省石家庄市合作路113号
代理机构 :
石家庄国为知识产权事务所
代理人 :
付晓娣
优先权 :
CN202010872383.7
主分类号 :
G01K11/00
IPC分类号 :
G01K11/00  G02B21/36  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01K
温度测量;热量测量;未列入其他类目的热敏元件
G01K11/00
不包括在G01K3/00,G01K5/00,G01K7/00或G01K9/00各组的以物理或化学变化为基础的温度测量
法律状态
2022-06-10 :
授权
2021-01-05 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01K 11/00
申请日 : 20200826
2020-12-18 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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