无损检测装置及基于康普顿背散射的无损检测装置
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摘要

本实用新型的无损检测装置及基于康普顿背散射的无损检测装置中,所述射线源与探测器固定于所述检测装置运动单元并能经检测装置运动单元驱动而上下直线运动,所述射线源与探测器之间的间距沿上下方向可调,所述轴向运动单元可以驱动工件沿平行于工件旋转轴线的方向直线移动,所述旋转运动单元可以驱动工件绕工件的旋转轴线旋转。本实用新型的无损检测装置,成本低、结构简单、操作便捷、适用于长直管状工件。

基本信息
专利标题 :
无损检测装置及基于康普顿背散射的无损检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922370797.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-26
授权号 :
CN212134533U
授权日 :
2020-12-11
发明人 :
刘维玉王广黄彬彬汪晓岗马骥王艳玲
申请人 :
宁波市宇华电器有限公司;宁波中物东方光电技术有限公司;深圳红冠机电科技有限公司
申请人地址 :
浙江省宁波市余姚市河姆渡镇镇西路71号
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN201922370797.5
主分类号 :
G01N23/20008
IPC分类号 :
G01N23/20008  G01N23/20025  G01N23/20066  G01N23/203  G01N23/204  
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IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
G01N23/20008
分析仪零件结构,例如其特征在于X射线源、检测器或光学系统;其配件;样品制备
法律状态
2020-12-11 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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