一种X射线透射和背散射一体化检测装置
授权
摘要
本实用新型提供一种X射线透射和背散射一体化检测装置，包括X射线发生装置、扫描器、被测物品通道、背散射探测器单元和透射探测器阵列。该一体化检测装置兼具透射和背散射功能，采用单一X射线源，满足小型化要求，扫描探测角度广，透射及背散射的图像分辨度高。
基本信息
专利标题 ：
一种X射线透射和背散射一体化检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922395685.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-26
授权号 ：
CN211086641U
授权日 ：
2020-07-24
发明人 ：
李永王强张炜王国宝郑玉来郭凤美刘超田利军田星皓颜静儒郭靓
申请人 ：
中国原子能科学研究院
申请人地址 ：
北京市房山区新镇三强路1号院
代理机构 ：
中科专利商标代理有限责任公司
代理人 ：
张成新
优先权 ：
CN201922395685.5
主分类号 ：
G01V5/00
IPC分类号 ：
G01V5/00 G01N23/203 G01N23/04
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01V
地球物理；重力测量；物质或物体的探测；示踪物
G01V5/00
应用核辐射进行勘探或探测，例如，利用天然的或诱导的放射性
法律状态
2020-07-24 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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