一种用于X射线背散射探测器装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于X射线背散射探测器装置，包括：光传感器、透明载体、闪烁体及反射层；其中：透明载体可供可见光光子透过，包括主透光平面一、侧面、主透光平面二，以及与光传感器相连的耦合面；闪烁体采用板状结构，包括主平面一、主平面二及闪烁体侧面，主平面一与透明载体的主透光平面一相贴合；透明载体的侧面、主透光平面二及闪烁体的主平面二、闪烁体侧面均包覆设置有反射层，本实用新型适用于安全监测设备技术领域，在保证对背散射X射线探测效率和灵敏度的基础，减少了探测器装置的外形尺寸，且便于安装使用。
基本信息
专利标题 ：
一种用于X射线背散射探测器装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202220082274.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2022-01-13
授权号 ：
CN216696122U
授权日 ：
2022-06-07
发明人 ：
刘廷葛振华张增辉张同冰尹超
申请人 ：
山东医工健康科技有限公司
申请人地址 ：
山东省泰安市泰安旅游经济开发区天平湖西侧环湖路以东泰山美墅B2别墅
代理机构 ：
北京世誉鑫诚专利代理有限公司
代理人 ：
刘秀珍
优先权 ：
CN202220082274.X
主分类号 ：
G01N23/203
IPC分类号 ：
G01N23/203 G01N23/223
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射，例如，用于测试晶体结构；利用材料辐射的散射，例如测试非晶材料；利用材料辐射的反射
G01N23/203
测量背散射
法律状态
2022-06-07 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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