热中子-γ射线透射检测装置
专利权的终止
摘要

热中子-γ射线透射检测装置属核技术应用技术领域,本装置由热中心和γ射线的束发射装置、探头和信号处理系统所组成。它同时利用Am-Be源的中子和γ射线,并只用一个锂玻璃闪烁探头检测。由数据处理系统同时给出一个样品的两个物理量(例如,混合料的水分和密度)。它不仅充分发挥Am-Be源与锂玻璃的作用,而且能够进行较高精度的测量。

基本信息
专利标题 :
热中子-γ射线透射检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN85201083.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
1985-04-01
授权号 :
CN85201083U
授权日 :
1986-02-05
发明人 :
刘圣康
申请人 :
南京大学
申请人地址 :
江苏省南京市汉口路南京大学科研处
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN85201083.4
主分类号 :
G01N23/02
IPC分类号 :
G01N23/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
法律状态
1989-12-13 :
专利权的终止
1986-08-20 :
授权
1986-02-05 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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