基于双光频梳及受激布里渊散射的微波频率测量方法
实质审查的生效
摘要

本申请涉及一种基于双光频梳及受激布里渊散射的高精度多微波频率测量方法,通过利用相同的激光器产生两路相干光频梳,作为光载波输入到两个双平行马赫曾德尔调制器中,并分别对待测微波信号和扫描信号进行抑制载波单边带调制。两路调制后的光信号分别作为信号光和泵浦光输入到受激布里渊散射效应结构中,再通过光解复用器分解出各个光梳齿,通过测量各信道输出光信号的功率值即可估计出待测信号的频率值。为进一步提高算法精度,利用测量得到的光功率值建立幅度比较函数计算频率测量误差,对频率测量值进行误差修正即可实现频率精测量。采用本方法,能够实现多个微波信号的高精度频率测量,在通信、雷达和电磁频谱感知等方面具有广泛应用价值。

基本信息
专利标题 :
基于双光频梳及受激布里渊散射的微波频率测量方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114285466A
申请号 :
CN202111604610.9
公开(公告)日 :
2022-04-05
申请日 :
2021-12-24
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
张先玉安康乔晓强梁涛李勇
申请人 :
中国人民解放军国防科技大学
申请人地址 :
湖南省长沙市开福区德雅路109号
代理机构 :
长沙国科天河知识产权代理有限公司
代理人 :
段盼姣
优先权 :
CN202111604610.9
主分类号 :
H04B10/079
IPC分类号 :
H04B10/079  H04B10/50  
法律状态
2022-04-22 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H04B 10/079
申请日 : 20211224
2022-04-05 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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