在X射线系统中的散射补偿
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要
在X射线成像系统中，散射补偿是这样达到的：提供具有快门(12)形式的校直装置以校直主X射线束(1)使得透过要被成像的对象(4)的辐射(8)基本上在中心入射到所述图像检测器(3)的工作部分(14)，以便规定一个工作边界(14b)，相对于该工作边界(6)可以测量散射水平。从代表透过对象的辐射(8)的电信号(7)中减去代表散射水平的电信号(104)，得到散射补偿的图像信号(106)。
基本信息
专利标题 ：
在X射线系统中的散射补偿
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN101065685A
申请号 ：
CN200580040154.2
公开（公告）日 ：
2007-10-31
申请日 ：
2005-11-17
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
J·H·M·朱斯滕N·努尔德霍克H·斯特格休斯
申请人 ：
皇家飞利浦电子股份有限公司
申请人地址 ：
荷兰艾恩德霍芬
代理机构 ：
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 ：
程天正
优先权 ：
CN200580040154.2
主分类号 ：
G01T1/164
IPC分类号 ：
G01T1/164
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/00
X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量
G01T1/16
辐射强度测量
G01T1/161
在核医学领域的应用，例如，人体内的计数
G01T1/164
闪烁照相法
法律状态
2010-12-29 ：
发明专利申请公布后的视为撤回
号牌文件类型代码 : 1603
号牌文件序号 : 101058194143
IPC(主分类) : G01T 1/164
专利申请号 : 2005800401542
公开日 : 20071031
号牌文件序号 : 101058194143
IPC(主分类) : G01T 1/164
专利申请号 : 2005800401542
公开日 : 20071031
2008-01-23 ：
实质审查的生效
2007-10-31 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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