小角X射线散射仪
授权
摘要

本实用新型公开了小角X射线散射仪,包括底座,所述底座内部设置有控制器,所述底座上部设置有用于产生测试所需X射线的测试光源机构、用于放置和移动样品的样品放置机构和探测机构,所述测试光源机构、样品放置机构和探测机构从左到右依次设置,所述样品放置机构包括样品舱、设置在样品舱内部的可在竖直平面二维运动的样品架机构以及设置在样品架机构上的样品放置台,所述控制器用于控制测试光源机构、样品放置机构和探测机构工作。本实用新型当探测器靠近样品时,可以获得样品的小角散射信号;当探测器远离样品时,可以获得样品的广角衍射信号;可以实现小角与广角数据的采集,应用范围更加广泛。

基本信息
专利标题 :
小角X射线散射仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122924554.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-11-25
授权号 :
CN216594875U
授权日 :
2022-05-24
发明人 :
武美玲
申请人 :
安徽国科仪器科技有限公司
申请人地址 :
安徽省合肥市高新区望江西路5089号嵌入式研发楼205室
代理机构 :
合肥昕华汇联专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
崔雅丽
优先权 :
CN202122924554.9
主分类号 :
G01N23/201
IPC分类号 :
G01N23/201  G01N23/20008  G01N23/20025  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
G01N23/201
测量小角散射,例如小角X射线散射
法律状态
2022-05-24 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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