校正X射线图像中的反向散射的设备
公开
摘要
提出了一种X射线成像探测器(102)，其中，所述X射线成像探测器包括用于将X射线辐射转换成电荷的X射线转换器(103)。所述X射线成像探测器还包括用于收集由所述X射线转换器生成的电荷并用于生成图像的探测器板(104)。此外，所述X射线成像探测器包括用于调制反向散射的X射线辐射的强度的结构化板(105)，其中，所述结构化板被布置在所述探测器板的与X射线转换器侧相对的一侧。此外，所述X射线成像探测器包括数据处理系统，所述数据处理系统被配置用于减轻由反向散射的X射线辐射引起的图像失真。此外，所述数据处理系统使用关于所述结构化板的信息。
基本信息
专利标题 ：
校正X射线图像中的反向散射的设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114513988A
申请号 ：
CN202080070954.3
公开（公告）日 ：
2022-05-17
申请日 ：
2020-09-25
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
J·科佩尼奇H-I·马克E·赫尔曼B·库曼
申请人 ：
皇家飞利浦有限公司
申请人地址 ：
荷兰艾恩德霍芬
代理机构 ：
永新专利商标代理有限公司
代理人 ：
孟杰雄
优先权 ：
CN202080070954.3
主分类号 ：
A61B6/00
IPC分类号 ：
A61B6/00
IPC结构图谱
A
A部——人类生活必需
A61
医学或兽医学；卫生学
A61B
诊断；外科；鉴定
A61B6/00
用于放射诊断的仪器，如与放射治疗设备相结合的
法律状态
2022-05-17 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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