一种X射线小角度散射成像系统
授权
摘要
本实用新型公开一种X射线小角度散射成像系统,X射线光源布置在待检测电缆一侧,X射线探测器布置在待检测电缆另一侧,对称光栅位于待检测电缆和X射线探测器之间,X射线探测器、检测电缆和对称光栅位于同一水平线上;所述对称光栅由两组两个位置交错布置空间互补的吸收光栅组成,X射线光源发射的主X射线和康普顿散射光子能被对称光栅挡住,小角度散射X射线通过对称光栅到达光栅后面的X射线探测器,能够有效地检测小角度散射信号,提升X射线无损检测成像中的图像清晰度。
基本信息
专利标题 :
一种X射线小角度散射成像系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921782780.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-10-23
授权号 :
CN210894172U
授权日 :
2020-06-30
发明人 :
李程刘俊华李强郭磊师雅斐张启超林涛李志忠赵学风李义仓廖强强陈晓丽张军邱欣
申请人 :
国网陕西省电力公司汉中供电公司;国网陕西省电力公司;国网陕西省电力公司电力科学研究院
申请人地址 :
陕西省汉中市汉台区黄家塘
代理机构 :
西安众和至成知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
强宏超
优先权 :
CN201921782780.4
主分类号 :
G01N23/201
IPC分类号 :
G01N23/201
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
G01N23/201
测量小角散射,例如小角X射线散射
法律状态
2020-06-30 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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