一种用于XRD的X射线散射的测量夹具
授权
摘要

本实用新型涉及一种用于XRD的X射线散射的测量夹具,属于检测辅助工具领域。本测量夹具包括:平板,平板上设有安装缺口;安装座,安装座置于安装缺口内,安装座的下端两侧向外延伸有延伸连接座,延伸连接座与平板之间设有第一调节组件,延伸连接座与平板通过调节组件连接;夹座,夹座的下端设有第二调节组件,夹座通过第二调节组件连接在平板上,夹座上设有用于放置粉状试样的第一放样孔;夹板,夹板设在夹座的一侧,夹座上设有锁紧组件,夹板通过锁紧组件连接在夹座上,夹板上设有用于放置粉状试样的第二放样孔,第二放样孔与第一放样孔相连通。本测量夹具具有制造成本低、拆卸方便和适用范围广等特点,能够有效扩展仪器的功能。

基本信息
专利标题 :
一种用于XRD的X射线散射的测量夹具
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020137277.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-01-21
授权号 :
CN211553817U
授权日 :
2020-09-22
发明人 :
王戎戎吕林荣云董泽刚王腾飞
申请人 :
贵州民族大学
申请人地址 :
贵州省贵阳市花溪区贵州民族大学
代理机构 :
北京轻创知识产权代理有限公司
代理人 :
李昆蔚
优先权 :
CN202020137277.X
主分类号 :
G01N23/20008
IPC分类号 :
G01N23/20008  G01N23/20025  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
G01N23/20008
分析仪零件结构,例如其特征在于X射线源、检测器或光学系统;其配件;样品制备
法律状态
2020-09-22 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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