X射线吸收测量系统
授权
摘要
本公开提供一种用X射线吸收测量系统。一种x射线照明系统，包括：x射线源，包括至少一个电子束发射器和至少一个靶，其中靶包括基板以及与基板热接触的多个离散微结构，多个离散微结构包括至少一个第一离散微结构和至少一个第二离散微结构；光具组，被配置为接收来自至少一个靶的沿着一定发散角内的预定轴传播的x射线并且产生x射线束；X射线单色器，被配置为可控地从X射线束选择X射线，选择的X射线具有选定能量和宽度。
基本信息
专利标题 ：
X射线吸收测量系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110530907A
申请号 ：
CN201910779963.9
公开（公告）日 ：
2019-12-03
申请日 ：
2015-03-03
授权号 ：
CN110530907B
授权日 ：
2022-05-17
发明人 ：
西尔维娅·贾·云·路易斯云文兵雅诺什·科瑞艾伦·弗朗西斯·里昂
申请人 ：
斯格瑞公司
申请人地址 ：
美国加利福尼亚州
代理机构 ：
北京东方亿思知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
桑敏
优先权 ：
CN201910779963.9
主分类号 ：
G01N23/085
IPC分类号 ：
G01N23/085 G21K1/06 H01J35/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
G01N23/05
利用中子
G01N23/085
X射线吸收微细结构，例如扩展XAFS
法律状态
2022-05-17 ：
授权
2019-12-27 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/085
申请日 : 20150303
申请日 : 20150303
2019-12-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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