X射线CT系统及X射线CT方法
授权
摘要

提供了一种X射线CT系统和一种X射线CT方法,其中,检测对象可以随时尽可能地接近X射线源同时防止旋转时检测对象与X射线源的干涉,不需要由操作者通过在CT投影前旋转旋转台确认。设置在旋转台3上的检测对象W由光学照相机6所拍摄,有关检测对象W的形状、尺寸以及与旋转轴R相对位置的信息利用所摄取数据的图像处理获得。然后,检测对象W与X射线源1之间的干涉根据该信息被监控,或者旋转台3自动定位在检测对象与X射线源没有干涉时最接近的位置。

基本信息
专利标题 :
X射线CT系统及X射线CT方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN101057135A
申请号 :
CN200580038911.2
公开(公告)日 :
2007-10-17
申请日 :
2005-10-26
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
龟川正之
申请人 :
株式会社岛津制作所
申请人地址 :
日本京都市
代理机构 :
北京市柳沈律师事务所
代理人 :
魏晓刚
优先权 :
CN200580038911.2
主分类号 :
G01N23/04
IPC分类号 :
G01N23/04  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
2011-01-12 :
授权
2007-12-12 :
实质审查的生效
2007-10-17 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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