X射线CT系统
授权
摘要

本发明旨在改善通过X射线CT系统提供的三维显示图像、MPR显示图像或者MIP显示图像的质量,其中所述X射线CT系统进行常规(轴向)扫描、电影扫描或者螺旋扫描。该X射线CT系统包括图像重建单元或者图像显示单元。该图像重建单元或者图像显示单元根据表现高CT值的物体在z方向上的连续性来测量断层摄影图像在水平的x方向上的偏移及其在垂直的y方向上的偏移,并且所述物体被看作断层摄影图像中的参考;诸如托架、头部支架、对象躯体表面、或者骨头。然后,图像重建单元或者图像显示单元补偿所述偏移。

基本信息
专利标题 :
X射线CT系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1955725A
申请号 :
CN200510118513.3
公开(公告)日 :
2007-05-02
申请日 :
2005-10-27
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
王学礼西出明彦萩原明森川琴子
申请人 :
GE医疗系统环球技术有限公司
申请人地址 :
美国威斯康星州
代理机构 :
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 :
张雪梅
优先权 :
CN200510118513.3
主分类号 :
G01N23/04
IPC分类号 :
G01N23/04  A61B6/03  G06T1/00  G06T3/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
2010-12-15 :
授权
2007-06-27 :
实质审查的生效
2007-05-02 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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