X射线摄像装置及X射线摄像方法
公开
摘要

本发明涉及一种X射线摄像装置及X射线摄像方法。本发明的课题在于准确地检测摄影对象物在特定方向上的尺寸。X射线摄像装置包括:X射线源;X射线检测器,检测从X射线源照射的X射线;以及载台,配置于X射线源与X射线检测器之间并支撑被摄体,且所述X射线摄像装置包括:驱动机构,使载台相对于X射线源及X射线检测器相对地沿与X射线的光轴正交的特定方向移动;获取部,从构成X射线检测器的像素中的、排列于与X射线的光轴及特定方向正交的方向上的至少一列的像素获取亮度信号;图像生成部,基于获取部所获取的亮度信号,生成被摄体的拍摄图像;以及尺寸检测部,基于拍摄图像,检测被摄体的特定方向的尺寸。

基本信息
专利标题 :
X射线摄像装置及X射线摄像方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114624265A
申请号 :
CN202110787501.9
公开(公告)日 :
2022-06-14
申请日 :
2021-07-13
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
中村慎吾北野辽太郎
申请人 :
岛津产业机械系统株式会社
申请人地址 :
日本滋贺县大津市月轮一丁目8番1号(邮递区号:520-2152)
代理机构 :
北京同立钧成知识产权代理有限公司
代理人 :
杨文娟
优先权 :
CN202110787501.9
主分类号 :
G01N23/046
IPC分类号 :
G01N23/046  G06T7/62  G21K5/02  H05G1/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
G01N23/046
应用X光断层技术,如计算机X光断层技术
法律状态
2022-06-14 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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