X射线摄像装置
公开
摘要
一种X射线摄像装置，在适当的时机解除配置于屏蔽室的门的锁定。工业用X射线摄像装置(1)包括：X射线源(11)；X射线检测器(13)，检测从X射线源(11)照射的X射线；载台(12)，配置于X射线源(11)与X射线检测器(13)之间且支撑被摄体(BJ)；及屏蔽室(14)，收容X射线源(11)、X射线检测器(13)及载台(12)，且屏蔽室(14)包括：门(141)，搬入及搬出被摄体(BJ)；及锁定机构(142)，禁止门(141)变化为打开状态，且X射线摄像装置(1)包括解除控制部(16)，其基于从屏蔽室(14)泄漏至外部的泄漏照射剂量(LD)，来对锁定机构(142)的锁定的解除进行控制。
基本信息
专利标题 ：
X射线摄像装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114577821A
申请号 ：
CN202110934834.X
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2021-08-16
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
松花文太神户悟郎植木太
申请人 ：
株式会社岛津制作所
申请人地址 ：
日本京都府京都市中京区西之京桑原町1番地
代理机构 ：
北京派特恩知识产权代理有限公司
代理人 ：
薛恒
优先权 ：
CN202110934834.X
主分类号 ：
G01N23/04
IPC分类号 ：
G01N23/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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