X射线成像装置
授权
摘要
本发明的X射线成像装置具备X射线源、包括第一光栅和第二光栅的多个光栅、检测器、使包括纤维束的被摄体与摄像系统进行相对旋转的旋转机构以及生成暗场像的图像处理部。图像处理部构成为从在多个旋转角度下拍摄到的多个暗场像至少获取包括纤维束的被摄体的三维暗场像。
基本信息
专利标题 ：
X射线成像装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN109425624A
申请号 ：
CN201811033808.4
公开（公告）日 ：
2019-03-05
申请日 ：
2018-09-05
授权号 ：
CN109425624B
授权日 ：
2022-06-03
发明人 ：
佐野哲白井太郎土岐贵弘堀场日明森本直树
申请人 ：
株式会社岛津制作所
申请人地址 ：
日本京都府
代理机构 ：
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
刘新宇
优先权 ：
CN201811033808.4
主分类号 ：
G01N23/046
IPC分类号 ：
G01N23/046
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
G01N23/046
应用X光断层技术，如计算机X光断层技术
法律状态
2022-06-03 ：
授权
2019-03-29 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/046
申请日 : 20180905
申请日 : 20180905
2019-03-05 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
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