X射线相位差摄像装置
授权
摘要
本X射线相位差摄像装置(100)具备：X射线源(1)，其照射连续X射线；第一光栅(3)，其用于形成自身像；第二光栅(4)；检测部(5)，其检测连续X射线；以及第三光栅(2)，其配置在检测部(5)与第一光栅(3)之间。而且，以满足规定的式的条件的方式配置第一光栅(3)、第二光栅(4)以及第三光栅(2)。
基本信息
专利标题 ：
X射线相位差摄像装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN109561864A
申请号 ：
CN201780046916.2
公开（公告）日 ：
2019-04-02
申请日 ：
2017-07-10
授权号 ：
CN109561864B
授权日 ：
2022-05-17
发明人 ：
佐野哲田边晃一吉牟田利典木村健士岸原弘之和田幸久和泉拓朗白井太郎土岐贵弘堀场日明志村考功渡部平司细井卓治
申请人 ：
株式会社岛津制作所;国立大学法人大阪大学
申请人地址 ：
日本京都府
代理机构 ：
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
刘新宇
优先权 ：
CN201780046916.2
主分类号 ：
A61B6/00
IPC分类号 ：
A61B6/00 G01N23/041
IPC结构图谱
A
A部——人类生活必需
A61
医学或兽医学；卫生学
A61B
诊断；外科；鉴定
A61B6/00
用于放射诊断的仪器，如与放射治疗设备相结合的
法律状态
2022-05-17 ：
授权
2019-04-26 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : A61B 6/00
申请日 : 20170710
申请日 : 20170710
2019-04-02 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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