X射线检查设备和X射线检查方法
授权
摘要
一种X射线检查设备，用于检查具有焊球(4a)的电路设备(20)与具有焊盘(6)的印刷电路板(10)之间的焊接部分，该设备包括：X射线发射装置(50)，用于向焊球(4a)与焊盘(6)之间的焊接部分发射X射线；X射线检测装置，用于检测透过焊接部分的X射线，以及输出检测信号；以及成像装置(70)，用于根据该检测信号形成并输出焊接部分的水平断层图像。该水平断层图像表示是否存在设置于焊盘(6)一侧(6a)的焊块(4)。
基本信息
专利标题 ：
X射线检查设备和X射线检查方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1828281A
申请号 ：
CN200610019831.9
公开（公告）日 ：
2006-09-06
申请日 ：
2006-03-01
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
平松友幸林义则长谷川久士
申请人 ：
株式会社电装
申请人地址 ：
日本爱知县
代理机构 ：
永新专利商标代理有限公司
代理人 ：
刘兴鹏
优先权 ：
CN200610019831.9
主分类号 ：
G01N23/04
IPC分类号 ：
G01N23/04 H05K3/34
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
2010-12-29 ：
授权
2007-01-10 ：
发明专利申请公布说明书更正
更正卷 : 22
号 : 36
页码 : 扉页
更正项目 : 优先权
误 : 缺少优先权第二条
正 : 2005.12.02 JP 349606/2005
号 : 36
页码 : 扉页
更正项目 : 优先权
误 : 缺少优先权第二条
正 : 2005.12.02 JP 349606/2005
2006-10-25 ：
实质审查的生效
2006-09-06 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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