X射线检查装置及X射线检查装置的劣化判定方法
实质审查的生效
摘要
本发明提供一种提高了构成X射线管的构成零件的劣化判定的判定精度的X射线检查装置及X射线检查装置的劣化判定方法。X射线检查装置(1)包括：X射线管(210)，产生X射线；高压电源(220)，向X射线管(210)供给管电压而产生X射线；X射线照射控制部(134)，向高压电源(220)输出第一控制信号与第二控制信号来对高压电源(220)进行控制；以及判定部(135)，对从X射线照射控制部(134)输出至高压电源(220)的第一控制信号及第二控制信号的至少一者进行计数，并将所计数的计数值与预先设定的阈值进行比较，来判定构成X射线管(210)的构成零件的劣化状态。
基本信息
专利标题 ：
X射线检查装置及X射线检查装置的劣化判定方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114486946A
申请号 ：
CN202110958475.1
公开（公告）日 ：
2022-05-13
申请日 ：
2021-08-20
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
松花文太神户悟郎
申请人 ：
株式会社岛津制作所
申请人地址 ：
日本京都府京都市中京区西之京桑原町1番地
代理机构 ：
北京派特恩知识产权代理有限公司
代理人 ：
薛恒
优先权 ：
CN202110958475.1
主分类号 ：
G01N23/04
IPC分类号 ：
G01N23/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
2022-05-31 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/04
申请日 : 20210820
申请日 : 20210820
2022-05-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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