X射线测量装置

专利权的终止

摘要

本发明提供一种X射线测量装置，其对检查对象照射X射线，并检测与检查对象相关的测量数据，并且在X射线源与检查对象之间设置调整X射线透过量的过滤器，对于X射线源与检查对象，使相对位置变化，并对得到的测量数据进行运算处理，将测量数据对数变换从而得到投影数据，并得到与获得的投影数据对应的所述过滤器的X射线吸收量，对于获得的X射线吸收量使用规定的变换式计算出过滤器的厚度，并根据计算出的过滤器的厚度得到与获得的投影数据对应的修正系数，将得到的修正系数与所述投影数据相乘，重建运算乘以了所述修正系数的投影数据，从而得到三维图像。

基本信息

专利标题：

X射线测量装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN101098660A

申请号：

CN200580046148.8

公开（公告）日：

2008-01-02

申请日：

2005-12-08

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

马场理香植田健

申请人：

株式会社日立医药

申请人地址：

日本东京都

代理机构：

中科专利商标代理有限责任公司

代理人：

李贵亮

优先权：

CN200580046148.8

主分类号：

A61B6/03

IPC分类号：

A61B6/03