一种X射线焦点测量装置
专利权的终止
摘要

本实用新型适用于X射线焦点测量技术领域,提供了一种X射线焦点测量装置,包括测量平台和狭缝,测量平台上方设置有上下方向延伸的导柱,导柱上设有狭缝安装架,狭缝安装架沿上下方向与导柱导向活动装配,狭缝固定在狭缝安装架上,测量平台包括探测器阵列和数据采集模块。该X射线焦点测量装置利用的是狭缝成像法的原理进行测量,X射线经过狭缝,在探测器阵列上形成焦点的像,通过探测器阵列探测得到成像信号,然后对数据进行处理,测量精度较高,误差较小。而且,狭缝可以沿着上下方向进行移动,能够计算得到多个焦点数据,对得到的多个焦点数据进行处理,能够进一步提升测量精度。

基本信息
专利标题 :
一种X射线焦点测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922158368.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-05
授权号 :
CN210603233U
授权日 :
2020-05-22
发明人 :
龙成章周云森高申星李胜春王攀峰刘辉王双玲毛哲李静唐盟高颖
申请人 :
河南省计量科学研究院
申请人地址 :
河南省郑州市金水区花园路21号
代理机构 :
郑州科硕专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
范增哲
优先权 :
CN201922158368.1
主分类号 :
G01B15/00
IPC分类号 :
G01B15/00  G01T1/24  G01T1/29  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B15/00
以采用波或粒子辐射为特征的计量设备
法律状态
2021-11-12 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01B 15/00
申请日 : 20191205
授权公告日 : 20200522
终止日期 : 20201205
2020-05-22 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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