高亮度空间相干微焦点X射线源
专利权的终止
摘要

一种高亮度空间相干微焦点X射线源,包括电子束产生及控制系统和位于防辐射外壳中的X射线产生腔两部分,1.所述的电子束产生及控制系统由电子束发生装置,电子束聚焦装置和残余电子束收集装置组成,所述的位于防辐射外壳中的X射线产生腔由入射窗,X射线透射靶,X射线出射窗构成。2.所述的电子束发生装置,电子束聚焦装置和残余电子束收集装置,以及X射线产生腔的入射窗,X射线透射靶,X射线出射窗同轴;本发明高亮度空间相干微焦点X射线源,具有普遍适用、高相干性、高亮度、低成本、体积小和稳定性好的特点。

基本信息
专利标题 :
高亮度空间相干微焦点X射线源
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1832054A
申请号 :
CN200610023415.6
公开(公告)日 :
2006-09-13
申请日 :
2006-01-18
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
喻虹韩申生彭卫军张帅
申请人 :
中国科学院上海光学精密机械研究所
申请人地址 :
201800上海市800-211邮政信箱
代理机构 :
上海新天专利代理有限公司
代理人 :
张泽纯
优先权 :
CN200610023415.6
主分类号 :
G21G4/04
IPC分类号 :
G21G4/04  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G21
核物理;核工程
G21G
化学元素的转变;放射源
G21G4/00
放射源
G21G4/04
除中子源外其他的放射源
法律状态
2015-03-18 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101601610649
IPC(主分类) : G21G 4/04
专利号 : ZL2006100234156
申请日 : 20060118
授权公告日 : 20090527
终止日期 : 20140118
2009-05-27 :
授权
2006-11-08 :
实质审查的生效
2006-09-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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