一种用于测试X射线管组件焦点中心的装置
授权
摘要
本实用新型提供一种用于测试X射线管组件焦点中心的装置。所述用于测试X射线管组件焦点中心的装置包括铅箱；探测器固定台，所述探测器固定台安装在所述铅箱内；X射线探测器，所述X射线探测器设置在所述探测器固定台的底部；测试台，所述测试台安装在所述探测器固定台内；X射线管组件，所述X射线管组件设置在所述测试台上；高压电源，所述高压电源设置在所述铅箱的一侧，且所述高压电源与所述X射线管组件电性连接。本实用新型提供的用于测试X射线管组件焦点中心的装置具有能够较为准确的定量判断焦点相对于窗口中心的偏移量，使用方便的优点。
基本信息
专利标题 ：
一种用于测试X射线管组件焦点中心的装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202220038176.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2022-01-09
授权号 ：
CN216745993U
授权日 ：
2022-06-14
发明人 ：
许洪强张折
申请人 ：
杭州斯派锐电子有限公司
申请人地址 ：
浙江省杭州市桐庐县江南镇振兴路136号13幢3楼
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202220038176.6
主分类号 ：
G01B15/00
IPC分类号 ：
G01B15/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B15/00
以采用波或粒子辐射为特征的计量设备
法律状态
2022-06-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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