X射线时间演化过程测量装置

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摘要

一种X射线时间演化过程测量装置，涉及X射线辐射流定量测量领域，所述X射线时间演化过程测量装置包括：脉冲展宽系统和信号处理系统，所述脉冲展宽系统包括加速区、漂移区和收集区，所述加速区用于对电子进行加速，且使得不同时间段进入所述加速区的电子的速度不同，所述漂移区用于使电子匀速运动，所述收集区用于收集电子；所述信号处理系统与所述收集区连接，用于通过展宽回推计算获得信号测量结果。所述X射线时间演化过程测量装置能够将信号展宽，然后通过展宽回推计算获得短脉冲信号的测量结果，从而实现高时间分辨的测量。

基本信息

专利标题：

X射线时间演化过程测量装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020346413.6

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-03-18

授权号：

CN212111821U

授权日：

2020-12-08

发明人：

侯立飞刘慎业杨家敏袁铮杨国洪杜华冰李晋陈韬杨轶濛车兴森韦敏习孙奥尚万里王峰

申请人：

中国工程物理研究院激光聚变研究中心

申请人地址：

四川省绵阳市游仙区绵山路64号

代理机构：

北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)

代理人：

张延薇

优先权：

CN202020346413.6

主分类号：

G01T1/36

IPC分类号：

G01T1/36